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梅特勒托利多 电子天平 XPR303SN/AC
电子天平 XPR303SN/AC性能,轻松合规.出色的结果和智能的质量保证。量程为310 g; 读数性为1 mg; 集成方法; 称量结果记事本; SmartPan秤盘; 用户密码; 4 x USB
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梅特勒托利多 电子天平 XPR603SN/AC
电子天平 XPR603SN/AC性能,轻松合规.出色的结果和智能的质量保证。量程为610 g; 可读性为1 mg; 集成方法; 称量结果记事本; SmartPan秤盘; 用户密码; 4 x USB
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梅特勒托利多 电子天平 XSR303SN/AC
电子天平 XSR303SN/AC智能化功能简化日常任务.准确、可靠的结果和智能设计功能。量程为310 g; 可读性为1 mg; 集成方法; 称量结果记事本; SmartPan秤盘; 4 x USB
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梅特勒托利多 电子天平 XSR603SN/AC
电子天平 XSR603SN/AC智能化功能简化日常任务.准确、可靠的结果和智能设计功能。量程为610 g; 可读性为1 mg; 集成方法; 称量结果记事本; SmartPan秤盘; 4 x USB
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MOFs/COFs 基础型比表面测试仪JW-BK112
MOFs/COFs 基础型比表面测试仪 ,精微高博比表面仪一并荣获中国计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有专利产品. 比表面仪功能比表面测定: BET(单点、多点)比表面
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MOFs复合材料快速比表面测试仪JW-DX
MOFs复合材料快速比表面测试仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪,JW发明专利,创新的结构,每个样品单独吸附,互不干扰,吸附峰尖锐,灵敏度大大提高,通过吸附峰直接对比得到比表面,测试准确
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MOFs/COFs高性能比表面测试仪JW-BK200
MOFs/COFs高性能比表面测试仪 JW-BK200C研究级超高性能双站比表面及微孔孔隙度分析仪,完全继承JW系列孔径分析仪所有技术特点,自主独特创新。该款仪器核心硬件全部采用国际先进品牌
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MOFs复合材料专用高通量比表面测试仪JW-BK400
MOFs复合材料专用高通量比表面测试仪 精微高博专注于比表面积测试仪的研发及销售,是国内外的知名品牌。并于2014年获得比表面积测试仪《国产好仪器》证书,客户的认可就是我们制造与研发比表面仪的
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激光尘埃粒子计数传感器PM3003SN
激光尘埃粒子计数传感器PM3003SNPM3003SN激光尘埃粒子计数传感器是基于光学散射原理,能够准确检测和计算单位体积空气中不同粒径悬浮粒子的数量。可同时输出0.3μm、0.5μm、1.0μm
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